探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)，主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析，抽查測(cè)試等用途。

  體視顯微鏡，亦稱實(shí)體顯微鏡，是從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的顯微鏡，因引入相機(jī)成像接口，故又稱三目體式顯微鏡。體式顯微鏡對(duì)觀察體無需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，像是直立的，便于操作和解剖，視場(chǎng)直徑大。體視顯微鏡較常規(guī)顯微鏡放大倍數(shù)不是很高，但其工作距離很長(zhǎng)，焦深大，便于觀察被檢物體的全層。廣泛應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體等領(lǐng)域的顯微觀察。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

常規(guī)選型：

應(yīng)用領(lǐng)域：

半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)、功率器件測(cè)試、MEMS測(cè)試、PCB測(cè)試、液晶面板測(cè)試、測(cè)量表面電阻率測(cè)試、精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)、航空航天實(shí)驗(yàn)等。

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